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華志電子取得天平耐老化測試裝置專利,具有高溫測試和低溫測試兩種功能:測試
國家知識產權局信息顯示,華志(福建)電子科技有限公司取得一項名為“天平耐老化測試裝置”的專利,授權公告號CN223756151U,申請日期為2024年12月測試。 專利摘要顯示,本實用新型涉及電子天平領域,尤其涉及天平耐老化測試裝置,包括測試箱,測試箱的內部通過隔板分隔為測試腔以及分別位于測試腔相對
國家知識產權局信息顯示,華志(福建)電子科技有限公司取得一項名為“天平耐老化測試裝置”的專利,授權公告號CN223756151U,申請日期為2024年12月測試。 專利摘要顯示,本實用新型涉及電子天平領域,尤其涉及天平耐老化測試裝置,包括測試箱,測試箱的內部通過隔板分隔為測試腔以及分別位于測試腔相對