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華志電子取得天平耐老化測試裝置專利，具有高溫測試和低溫測試兩種功能:測試
國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，華志（福建）電子科技有限公司取得一項名為“天平耐老化測試裝置”的專利，授權(quán)公告號CN223756151U，申請日期為2024年12月測試。 專利摘要顯示，本實用新型涉及電子天平領(lǐng)域，尤其涉及天平耐老化測試裝置，包括測試箱，測試箱的內(nèi)部通過隔板分隔為測試腔以及分別位于測試腔相對
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