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芯卓科技取得測試探針鍍層性能優(yōu)化專利:測試
國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示,芯卓科技(浙江)有限公司取得一項(xiàng)名為“測試探針、探針卡和測試探針制造方法”的專利,授權(quán)公告號CN120405195B,申請日期為2025年5月測試。 天眼查資料顯示,芯卓科技(浙江)有限公司,成立于2023年,位于金華市,是一家以從事計(jì)算機(jī)、通信和其他電子設(shè)備制造業(yè)為主的企業(yè)
國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示,芯卓科技(浙江)有限公司取得一項(xiàng)名為“測試探針、探針卡和測試探針制造方法”的專利,授權(quán)公告號CN120405195B,申請日期為2025年5月測試。 天眼查資料顯示,芯卓科技(浙江)有限公司,成立于2023年,位于金華市,是一家以從事計(jì)算機(jī)、通信和其他電子設(shè)備制造業(yè)為主的企業(yè)